30年氟鋁酸鉀、氟鋁酸鈉生產(chǎn)廠(chǎng)家
氟鋁酸鉀的xrd圖譜目錄
XRD、IR、SEM、EDS及紫外可見(jiàn)吸收的測試原理及具體分析步驟（材料測試技術(shù)里面的）
如果您需要氟鋁酸鉀的XRD圖譜，建議您聯(lián)系專(zhuān)業(yè)的化學(xué)實(shí)驗室或研究機構，他們可以通過(guò)實(shí)驗和數據分析為您提供準確的XRD圖譜。同時(shí)，您也可以在學(xué)術(shù)期刊或數據庫中查找相關(guān)的研究論文或數據，以獲取更詳細的信息。
一、分析方法： 1、數據的輸入 Jade軟件可以直接讀取Rigaku、Bruker、Philips、Scintag等很多衍射儀的原始數據。
打開(kāi)File\patterns,將出現如附件中所示畫(huà)面，先（I）找到你文件位置，從（III）的下拉框中選擇你的數據格式，按（II）選擇。
很多儀器輸出文件的格式都是*.raw,實(shí)際上都是不一樣的，但格式選錯了也沒(méi)關(guān)系，軟件會(huì )給你自動(dòng)轉到合適的格式中去的。
高級一點(diǎn)的：有一些數據格式在（III）的下拉框中沒(méi)有，比如最常見(jiàn)的txt，xy等，此時(shí)你可以自己動(dòng)手設置，在以上的數據輸入面板中，點(diǎn)擊工具欄上的“import",進(jìn)入格式設置畫(huà)面，如附件所示，a區為注釋區，b區為數據格式區，對于最簡(jiǎn)單的一列角度，一列強度的數據格式，a區不用填寫(xiě)，b區在”anglecolumn“前打上勾，數據從第1行開(kāi)始讀，每行1列數據，強度數據從第8行開(kāi)始（角度不算），角度從1至6列，所得數據格式即為附件中所示的數據格式。
你也可以按照自己的數據格式進(jìn)行自由改動(dòng)，如果a區中表明第1行有說(shuō)明文字，則數據從第2行讀入，相應在b區就將datastarts改成2。
做完上面的工作后，將文件后綴改為你的數據后綴（箭頭所指），再將該格式保存下來(lái)便可大功告成了。
2基本功能使用：平滑，扣背底 一張XRD圖譜出來(lái)，往往因為有空氣散射，漫散射，熒光以及樣品結晶差等等原因而造成圖譜上存在許多“毛刺”和較高的背底，雖然提高X光強度能成倍提高信噪比，然而有時(shí)受儀器和樣品所限，這兩項功能需要用到。
但根據我個(gè)人的經(jīng)驗，要盡量少使用平滑和扣背底，因為這兩項操作帶來(lái)的可能后果就是將一些微弱的有用信息一概抹掉了，特別注意的是，如果將數據用來(lái)做Rietveld精修，更不要進(jìn)行這兩項操作。
當然，如果是將圖譜打印出來(lái)給別人看，適當進(jìn)行平滑和扣背底也是個(gè)不錯的選擇。
3尋峰和峰型擬合 在尋峰之前最好用標樣校正過(guò)2theta值，這些都是儀器操作人員的事情，我就不說(shuō)了。
打開(kāi)analyze/findpeaks，或右鍵單擊快捷工具欄中的圖標。
出現一個(gè)懸浮框，在“search”里面可以對尋峰的判據進(jìn)行設置，大家可以改動(dòng)不同的限制條件，然后按“apply”看看有什么變化。
在“Label”里面主要是可以選定標注的內容，如d值，2theta值，半峰寬，強度等，這些大家多試幾次就OK了。
如果要將尋峰結果列出，按下“report”即可。
也可以自己手動(dòng)直接在圖譜上標峰，大家可以看到有一個(gè)懸浮式快捷編輯框“edittoolbar”，左鍵點(diǎn)擊第3個(gè)圖標。
然后就可以直接在峰頂標注，如果同時(shí)按住“Ctrl”鍵，則可以在圖譜的任何位置上進(jìn)行標注。
如果要去掉某個(gè)峰的標注，則用鼠標將豎線(xiàn)拖到與峰的標注線(xiàn)重疊，出現紅顏色之后點(diǎn)擊右鍵即可。
如果要刪除所有的峰的標注，在窗口中點(diǎn)擊右鍵，選定”Eraseall”即可。
4峰型擬合 如果要得到精確的峰型，峰位信息，一般都要經(jīng)過(guò)峰型擬合，JADE提供了單峰擬合的功能。
在峰型擬合前不要進(jìn)行平滑和扣背底，也不主張預先自動(dòng)尋峰。
就像前面一位朋友說(shuō)的，對于重疊峰的分離比較有難度，也可能會(huì )導致軟件“罷工”（我也遇到過(guò)這種情況），但對于多數人來(lái)說(shuō)，峰型擬合就等同于分峰，因此面對重疊峰是不可避免的，我的建議是高角度的峰舍棄，并且分峰要一小段接一小段地進(jìn)行（背底嚴重的除外）。
二、XRD測的簡(jiǎn)單介紹： XRD即X-raydiffraction的縮寫(xiě)，X射線(xiàn)衍射，通過(guò)對材料進(jìn)行X射線(xiàn)衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態(tài)等信息的研究手段。
X射線(xiàn)是一種波長(cháng)很短(約為20～0.06埃)的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相乳膠感光、氣體電離。
在用電子束轟擊金屬“靶”產(chǎn)生的X射線(xiàn)中,包含與靶中各種元素對應的具有特定波長(cháng)的X射線(xiàn)，稱(chēng)為特征（或標識）X射線(xiàn)。
SEM：材料的表面形貌，形貌特征。
配合EDX可以獲得材料的元素組成信息
TEM：材料的表面形貌，結晶性。
配合EDX可以獲得材料的元素組成
FTIR：主要用于測試高分子有機材料，確定不同高分子鍵的存在，確定材料的結構。
如單鍵，雙鍵等等
Raman：通過(guò)測定轉動(dòng)能及和振動(dòng)能及，用來(lái)測定材料的結構。
CV：CV曲線(xiàn)可以測試得到很多信息，比如所需電沉積電壓，電流，以及半導體行業(yè)可以得到直流偏壓
EIS：EIS就是電化學(xué)交流阻抗譜測試可以得到電極電位，阻抗信息，從而模擬出系統內在串聯(lián)電阻，并聯(lián)電阻和電容相關(guān)信息
BET：主要是測試材料比表面積的，可以得到材料的比表面積信息。
XRD：主要是測試材料的物性，晶型的。
高級的XRD還可以測試材料不同晶型的組分。
質(zhì)譜：主要用于鑒定材料的化學(xué)成分，包括液相質(zhì)譜，氣象質(zhì)譜
分散均勻,XRD依然能夠檢測，沒(méi)有出現有2種可能：1. Cr的含量太少。
2. 化學(xué)反應進(jìn)入載體晶格。
從你的溫度上看，感覺(jué)第一種可能性大。
